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SS:비파괴평가 AA:김정석
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마이크로/나노 비파괴평가 기술(I): 표면 및 표면직하 검사 선택
마이크로/나노 비파괴평가 기술(I): 표면 및 표면직하 검사
김정석
| 한국비파괴검사학회 |
2012
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별치/청구기호
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대출여부
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AR0069179
A
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620.1127 비89ㅂ
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2
마이크로/나노 비파괴평가 기술(Ⅱ) : 음향특성계측 선택
마이크로/나노 비파괴평가 기술(Ⅱ) : 음향특성계측
김정석
| 한국비파괴검사학회 |
2012
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등록번호
별치/청구기호
소장처
대출여부
대출정보
AR0062013
A
-
620.1127 비89ㅂ
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