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(A study of) Well resistance effect ULSI CMOS Design = 실험적 ULSI CMOS 디자인의 웰저항 효과에 대한 연구
(A study of) Well resistance effect ULSI CMOS Design = 실험적 ULSI CMOS 디자인의 웰저항 효과에 대한 연구
- 자료유형
- 기사
- ISSN
- 1225-8954
- 청구기호
- 041 동58 v.8
- 서명/저자
- (A study of) Well resistance effect ULSI CMOS Design = 실험적 ULSI CMOS 디자인의 웰저항 효과에 대한 연구 / Lee, Myung-Ok
- 발행사항
- 전남 : 동신대학교, 1996.
- 형태사항
- pp. 285-295
- 기타저자
- 이명옥
- 기본자료저록
- 논문집 : 제8집
- 기타저자
- Lee, Myung-Ok
- Control Number
- joongbu:78105
Info Détail de la recherche.
- Réservation
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