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Avalanche Electron Trapping에 의한 SiO₂Layer 및 Si-sIO₂Interface 연구
Avalanche Electron Trapping에 의한 SiO₂Layer 및 Si-sIO₂Interface 연구
- 자료유형
- 기사
- 청구기호
- 041 경52 v.15
- 서명/저자
- Avalanche Electron Trapping에 의한 SiO₂Layer 및 Si-sIO₂Interface 연구 / 한병국
- 발행사항
- 경산 : 慶山大學校, 1997.
- 형태사항
- pp. 297-306
- 기타저자
- 한병국
- 기본자료저록
- 論文集 : 第15輯
- Control Number
- joongbu:45188
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