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마이크로/나노 비파괴평가 기술(I): 표면 및 표면직하 검사 / 김정석 ; 박익근 공저

コンテンツ情報

마이크로/나노 비파괴평가 기술(I): 표면 및 표면직하 검사

자료유형: 기사

ISSN: 12257842

청구기호: 620.1127 비89ㅂ v.32-2

서명/저자: 마이크로/나노 비파괴평가 기술(I): 표면 및 표면직하 검사 / 김정석 ; 박익근 공저

발행사항: 서울 : 한국비파괴검사학회, 2012.

형태사항: pp. 198-209

키워드: 마이크로와 나노 비파괴평가 표면 표면직하 미세조직

기타저자: 김정석

기타저자: 박익근

기본자료저록: 비파괴검사학회지 : Vol32 No2 2012, 04

모체레코드: 모체정보확인

Control Number: joongbu:406909

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